8V182512IDGGREP
特定功能逻辑 Mil Enhanced 3.3V ABT Scan Test Device
- 制造商：
- Texas Instruments
- 产品类别
- 特定功能逻辑
- 无铅情况/RoHS：
- 无铅/符合RoHS
- 供货：
- 商城自营
文档与媒体
| 数据手册 | 8V182512IDGGREP 点击下载 |
|---|
产品规格
| 产品属性 | 属性值 |
|---|---|
| 产品目录 | 特定功能逻辑 |
| 工作电源电压 | 3.3 V |
| 系列 | SN74LVTH182512-EP |
| 封装 | Reel |
| 最小工作温度 | - 40 C |
| 最大工作温度 | + 85 C |
| 封装 / 箱体 | TSSOP-64 |
库存：54,209
- 交货地：
- 国内
- 最小包装：
- 2000
- 参考单价：
- ￥58.3046
| 数量 | 单价（含税） | 总计 |
|---|---|---|
| 2,000+ | ￥58.3046 | ￥116,609.2000 |
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